该设备用于超大规模数字集成电路的测试(静态和动态参数)和功能验证,配合探针台进行半导体器件的中测和成测。可承担筛选试验,考核试验等试验的电参数测试。V93000
对样品的故障点进行有效而精确的定位的失效分析
集成电路仿真加速
用于超大规模数字集成电路的测试(静态和动态参数),和功能验证
系统能满足各种封装形式,额定试验功率在10W~300W的大功率三极管、达林顿管、场效应管等功率器件的稳态寿命试验、间歇(热疲劳)寿命试验和功率老炼筛选;
可产生射频连续波信号、各种基本 调制形式的基带信号、加配的选件可产生GPS及W-CDMA信号
处理多路神经信号,配合多电极阵列研究皮层神经信号编码;
处理多路神经信号,配合多电极阵列研究皮层神经信号编码