通过IC_CAP软件控制系统在片测量双端口器件的小信号低温（-50℃）、常温（25℃）、高温（200℃）S参数
电子测量_大规模集成电路-其他-*
可连接Keithley4200半导体参数测试仪，Agilent各种直流和高频参数测试仪
配合探头进行EMI测试； 快速查找信号故障。
信道/相邻信道功率测量; 占用带宽(OBW); 频谱发射模板测量(SEM); 互补累计分布函数CCDF 突发功率测量； 杂散； C/N及C/N0。
输出连续波信号、调制信号及脉冲信号
噪声测量功能：使用超低本底噪声和交叉关联方法来测量相位噪声、无需改变 RF 连接即可测量 AM 噪声和相位噪声、从 1 Hz 到 100 MHz 的基带噪声测量
用于试验射频信号的产生
测量低频至射频信号测试频率、功率等指标，为改善器件与系统性能指标提供参考数据。
产生高精度、高质量的BD2 RNSS 区域信号B3、全球信号B1C、BD2 RDSS、GPS L1C/L2C和Galileo E1等多模卫星导航信号，扩展现有平
实时采集与待测芯片/接收机具有相同位置属性的卫星导航射频信号，并通过射频回放功能提供统一真实环境下的反复对比测试。
