smic电路在片测试
可用于MOSFET和TGBT器件中开启延迟td(on)、关段延迟td(off)、上升时间tr、下降时间tf
CV、IV等电学测试
测试能力1000V/20A,测试精度0.1V、1uA
自动化测试机台,射频、模拟、混合信号测试等
半导体器件 IV、CV测试
工艺实验配套
电源(UPS)
射频电源