测试样品低温下的物性变化：比如电阻
B1500A半导体器件分析仪是一款一体式半导体器件的直流/交流参数测量和分析设备。可提供直流电压/电流输出，直流电压/电流测量和交流信号输出以及阻抗测量。
微纳米结构加工与表征，包括：(1)离子束刻蚀；(2)透射电镜样品制备；(2)离子束沉积金属Pt,绝缘体SiO2；(3)电子束沉积金属Pt；(4)电子束曝光；(5
综合物性测量可在1.9 ~400K的温度范围、磁场从0 ~9T的范围对多种磁学、电学等物性进行高精度测量，例如，在磁学方面可测量磁化强度随温度的变化M(T)、磁
1、测量半导体功率器件及相关半导体芯片的电压、电流、电感等参数；2、配有屏蔽系统；3、配有Keithley4200半导体参数仪等配套设备。
1. 可完成N沟道/P沟道MOSFET器件和PNP/NPN双极晶体管, IGBT等器件的阻性负载开关时间参数的测试。可测试Td（on），Tr，Td（off），T
片状器件，如陶瓷电容器、射频电感、电阻器等的射频阻抗参数测量； 变容二极管的电容-电压特性曲线和等效串联电阻测量； 塑料、陶瓷、印刷线路板和其他电介质材料的介电
精密DC电流电压（I-V）测量，提供全面半导体特性分析基础；AC阻抗（C-V）测量；脉冲式信号和瞬态信号测试，提供动态特点分析。
测电压电流
脉冲电流检测
在高电压、大电流的功率器件研究中需要准确测量高电压、大电流时芯片的特性与器件的参数。Agilent B1505A半导体综合特性分析仪可用于在整个工作范围精确测量
可进行交直流电阻、微分电阻、霍尔效应和伏安特性等测量。使用专用样品托，每次可同时测量2个样品。
