四探针法测量表面电阻
电阻率 Seebeck系数
测试方块电阻
主要用于量测电子材料重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等
对电容器、电感器、谐振器、半导体等元器件以及印刷电路板、环形铁芯等材料进行测量 3.用42941A 探头可以进行电路内的器件或接地器件的测量
测试功率器件栅电荷Qg、栅电阻Rg参数
可用于功率器件击穿电压、阈值、导通电阻、栅极漏电、漏极漏电、跨导、脉冲电流、源漏二极管正向压降等参数的测量
测试样品低温下的物性变化：比如电阻
B1500A半导体器件分析仪是一款一体式半导体器件的直流/交流参数测量和分析设备。可提供直流电压/电流输出，直流电压/电流测量和交流信号输出以及阻抗测量。
微纳米结构加工与表征，包括：(1)离子束刻蚀；(2)透射电镜样品制备；(2)离子束沉积金属Pt,绝缘体SiO2；(3)电子束沉积金属Pt；(4)电子束曝光；(5
综合物性测量可在1.9 ~400K的温度范围、磁场从0 ~9T的范围对多种磁学、电学等物性进行高精度测量，例如，在磁学方面可测量磁化强度随温度的变化M(T)、磁
