2-4英寸
Talos可以满足冷冻单颗粒技术、冷冻电子断层扫描技术、STEM电子断层扫描技术的数据收集需求，用于生物大分子复合体高分辨率三维结构研究和细胞（细胞器）超微结构
JEM-2100F场发射透射电子显微镜将主要用于环境科学、生态毒理学和材料科学研究中所涉及的纳米材料、大分子和生物组织等的定性表征，即测定纳米材料、蛋白、腐殖酸
界面力测量，形貌扫描，可与荧光显微镜Micro/NanoPIV搭配使用
该系统综合利用合成孔径雷达技术（SAR）、步进频率连续波技术（SF-CW）以及干涉测量技术，可以进行山体及坝体表面位移高精度、全尺度、实时远程测量，是目前世界上
可以对样品进行表面形貌的观察，包括高真空模式、低真空模式和环境扫描模式；对微小样本进行微操作、微区力学及电学性质测量
微纳米材料（或结构）的表面形貌与成分信息观察
活细胞成像（明场、相差、微分干涉、偏振、荧光），普通荧光样品成像。
可以测量样品的表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等
MultiMode SPM能够提供全部的原子力显微镜和扫描隧道显微镜成像技术，可以测量样品的表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等
可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力、表面电势、磁/
各种固态样品表面形貌的二次电子像及背散射电子像的超高分辨观察及样品表面微区成分的定性和定量分析。分辨率高，CNAS认证
