厂商及型号
JEM-2100F
性能参数
点分辨率：0.19nm，
线分辨率：0.14nm
加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
倾斜角：：X=±25°，Y=±25°
STEM分辨率：0.20nm
束流：0.5nA（束斑尺寸为1nm时）；
放大倍数：：×50～6,000 (LOW MAG 模式)， 2,000～1,500,000 (MAG 模式)，8,000～800,000(SA MAG 模式)；
配备STEM附件、元素Mapping功能、CCD和能谱装置。
分析范围B5-U92。
服务功能
JEM-2100F场发射透射电子显微镜将主要用于环境科学、生态毒理学和材料科学研究中所涉及的纳米材料、大分子和生物组织等的定性表征，即测定纳米材料、蛋白、腐殖酸、大分子、细胞和微生物的形貌和尺寸大小。
