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设备 / 光学仪器

钨灯丝扫描电子显微镜（S-3400)

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厂商及型号

日本Hitachi公司S-3400N

性能参数

二次电子成像分辨率：3nm(30kV)、10nm(3kV)；背散射电子成像分辨率：4nm(30kV，6Pa)；低真空模式真空度：6Pa～270Pa；放大倍数：5x～300000x；加速电压：0.3～30kV；样品最大尺寸：200mm；倾转角度：-20°～90°

服务功能

微纳米材料（或结构）的表面形貌与成分信息观察
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