冷场发射扫描电子显微镜(S-4800)

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厂商及型号

日本Hitachi公司S-4800

性能参数

二次电子成像分辨率:1.0 nm(15 kV)、2.0nm(1kV);放大倍数:30x~800000x;加速电压:0.1~30kV(配有减速功能);样品最大尺寸:100mm 能谱能量分辨率:优于133ev;可分析元素范围:Be(4)~U(92);定量分析精度:C元素:1%wt;Na以上元素:0.x%w。

服务功能

各种固态样品表面形貌的二次电子像及背散射电子像的超高分辨观察及样品表面微区成分的定性和定量分析。分辨率高,CNAS认证