具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、扫描透射电子像以及二次电子与背散射电子混合像。能同时进行样品表层的微区点、线面元素的定性、半定量分析，具有
二次电子像，微区能谱分析
样品微观形貌观察及成分分析
样品微观形貌分析
SEM检测
检测
形貌观察和元素分析
样品表面成像，连续切片三维重构和冷冻样品表面成像
STEM 0.078nm TEM 0.1nm EELS 0.35eV EDS 129eV
该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像及图像处理。 配有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区成分的定性、半定量和定量分析
NOVA NanoSEM 430具备超高分辨率，可以获得纳米尺寸级别样品的表面形貌信息；可在高真空下实现高压和低压的超高分辨率形貌检测；可在低真空下对非导电导电
对固体进行微观形态的扫描，物质成分的定量测量
