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设备 / 光学仪器

场发射扫描电镜(物质区域中心)

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厂商及型号

FEI XL30 S－FEG

性能参数

该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像及图像处理。 配有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区成分的定性、半定量和定量分析，获得元素的分布图及颗粒粒径大小统计。

服务功能

该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像及图像处理。 配有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区成分的定性、半定量和定量分析，获得元素的分布图及颗粒粒径大小统计。
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