半导体、金属、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌观察，纳米材料显微结构、尺寸分析，材料微结构及相分布观察 。
电力电子器件检测和材料分析检测
该设备内置镜筒内（In-lens）二次电子探测器、样品室二次电子探测器、背散射电子探测，样品台为五轴全自动控制，是一台高性能、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微
用于器件表面2维及3维形貌量测
根据需求匹配
用于在线的8寸整片晶圆观测，
用于晶圆剖面观测
S-4800 FE-SEM可观察样品表面及切片剖面的微观形貌及特征
通过利用膜片钳系统测量细胞膜电压变化，研究特异性免疫反应、DNA与蛋白质相互作用、细胞离子信号转导等；通过对生物大分子进行荧光标记、显微镜观察，进而利用荧光能量
一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，研究物质的表面结构及性质，以纳米级分辨率获得表面结构信息。
