扫描电子显微镜(S-4800 FE-SEM)(四室A)

浏览次数

627

收藏次数

0

接洽次数

0

厂商及型号

S-4800 FE

性能参数

二次电子分辨率可达1.0nm,放大倍数为40倍~80万倍,并具有图像记忆和追踪功能。

服务功能

S-4800 FE-SEM可观察样品表面及切片剖面的微观形貌及特征