电性测量
1、直流、交流电输运;2、Hall效应测量;3、直流、交流磁化率;4、热容量;5、热传导;6、磁转矩转动样品台(360°旋转):电输运、Hall效应、磁转矩;H
测试功率三极管、功率MOS器件、IGBT等功率器件热阻参数
在片测试
8寸/12寸集成电路产品WAFER测试流水线
根据需求匹配
用于器件的电学测试
用于8寸、6寸和4寸晶片的在片测试,最多可提供8根直流探针和2根20GHZ/ 40GHZ射频探针,亦可使用有源射频探针进行内核电路测试。
用于12寸、8寸、6寸、4寸、2寸晶片的在片测试,最多可提供8根直流探针和2根20GHZ/ 40GHZ射频探针,亦可使用有源射频探针进行内核电路测试。
该设备用于测试功率器件的瞬态热阻、稳态热阻
与半导体参数测试仪一起使用,测量硅片,提取特性参数