拍摄高分辨电子显微像及电子衍射花样进行材料结构分析
三维表面形貌成像分析,接触模式; SPM扫描范围:X/Y方向:100nm-100μm, Z方向:10nm - 10μm。激光干涉测量灵敏度:0.1nm
表面微纳结构表征、表面微纳结构图形的制作
1、通用附件可测试液体样品的光谱信息;2、前表面附件可测试薄膜及粉末样品
1、通用附件:可对液态样品进行定性及定量分析,也可对可透光薄膜进行定性分析,波长范围是190-3300nm。2、150mm积分球:可在200~2500nm范围内
(1)离子束刻蚀;(2)XeF2绝缘体增强刻蚀;(2)离子束沉积金属Pt,绝缘体SiO2;(3)电子束沉积金属Pt;(4)电子束/离子束曝光;(5)电子束/离子
观察各种材料的微观结构并对样品进行纳米尺度的微区分析,如:形貌观察,高分辨电子显微学研究,电子衍射,电子能量损失谱分析及能量过滤成像,X射线能谱分析,原子序数Z
中能谱学应用研究
表面检测仪器,能够突破传统光学显微镜的衍射极限,达到30至100 nm左右的解析度。激光光束经由光纤探针发射至样品表面,在近场范围的焦距内可以深入穿透样品,通过
纳米薄膜检测
IX2倒置显微镜能够在超宽光谱上生成前所未有的高质量图像,是广大研究人员进行活细胞观察的理想选择