高分辨透射电子显微镜

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厂商及型号

JEM2010

性能参数

晶格分辨率 0.14nm点分辨率 0.19nm 加速电压200KV倾角+-25度

服务功能

拍摄高分辨电子显微像及电子衍射花样进行材料结构分析