主要用来精确测定物质的晶体结构、织构、应力、极图、反射率等,精确的进行物相分析、定性分析及定量分析等;已广泛应用于各种材料结构分析的各个领域,是材料研究不可或缺
可测试光电传感器件在不同波长、不同光强下的光响应特性
硅/氧化硅/玻璃刻蚀
适用于二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT、光电耦合器、达林顿三极管等多封装半导体分立器件的直流参数测试。
1.二恶英分析专用高分辨质谱 2.高灵敏度,低检测限 3.洁净、快速的抽真空系统 4.便于维护的插拔式离子源设计 5.方便的数据分析软件
?新CPU技术使扫描速度达到20,000 amu/sec,每秒最多可采集100张谱图,并有效降低30~40%的噪声 ?配备ASSP功能(Advanced Sc