厂商及型号
Bruker //D8 ADVANCE
性能参数
1、标准和多功能样品台，零背景样品托；2、聚焦光、平行光及点光源切换方便；3、林克斯一维阵列探测器：相对与常规探测器强度提高150倍以上，灵敏度提高一个数量级；4、各种分析和拟合软件。可测量样品种类：粉末、块材、薄膜等常规和微量、小的（2*2平方毫米）样品。
服务功能
主要用来精确测定物质的晶体结构、织构、应力、极图、反射率等,精确的进行物相分析、定性分析及定量分析等；已广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是材料研究不可或缺的核心设备
