X射线衍射仪

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厂商及型号

Bruker //D8 ADVANCE

性能参数

1、标准和多功能样品台,零背景样品托;2、聚焦光、平行光及点光源切换方便;3、林克斯一维阵列探测器:相对与常规探测器强度提高150倍以上,灵敏度提高一个数量级;4、各种分析和拟合软件。可测量样品种类:粉末、块材、薄膜等常规和微量、小的(2*2平方毫米)样品。

服务功能

主要用来精确测定物质的晶体结构、织构、应力、极图、反射率等,精确的进行物相分析、定性分析及定量分析等;已广泛应用于各种材料结构分析的各个领域,是材料研究不可或缺的核心设备