透明及半透明薄膜的厚度，折射率，消光系数
用于厚度小于10nm薄膜测量
可测薄膜的厚度，光学参数
卡盒上样系统和条码识别器允许一次测定中使用不同种类的样品和测定程序，测定完毕后结果可通过网络自动保存至远端计算机
温度固定点装置，均为国际温标定义的固定点，是对标准温度计进行检定和期间核查的必备设备，也是开展国际比对的有效工具和手段
测地表显热通量
表面形貌测量
测试放大器、混频器、接收机等芯片或电路的噪声系数
台阶高度和薄膜应力测量
台阶高度测量
