测试半导体特性参数，包括直流特性参数，脉冲特性参数和电容特性参数
配合矢量网络分析仪或者其他仪器测试晶圆级器件的射频特性
配合其他仪器测试8寸Wafer、IC的直流特性
直流电流检测
应用于热特性测试,热管和热沉热特性测试, Die Attach 热特性测试
I-V等测试
该设备提供外界干扰信号屏蔽并作为可靠性测试硅片的载物台使用。该探针台是专门测量纳米器件可靠性的探针台，具有更好的屏蔽功能；具有更精准的温度控制系统以及更快速的升
系统能满足能满足各种封装形（包括SMT表面贴装）二极管、三极管、场效应管和可控硅等分立器件进行高温反偏寿命试验（HTRB、High Temperature Re
精确仿真与验证多端直流输电系统，解决现有直流输电系统模型可信度不高的问题，分析柔性直流输电系统特性和规律，验证柔性直流输电系统的规划方案和保护控制策略等
超大规模数字集成电路的测试（静态和动态参数），和功能验证
