固体样品的形貌、颗粒度
荧光光谱
利用近场探针在样品表面的近场范围内进行扫描得到分辨率突破衍射极限的光学像,并获得高清晰形貌像
通过微区分析方法测量微区样品的透射光谱、反射光谱、线偏振光谱、圆偏振光谱、荧光光谱等。
主要用于直接观察导电,不导电样品的表面相貌及成分分析。该设备具有可观察含水样品的功能,并能再低真空以及更低真空度的条件下能观察二次电子像,以满足研究近似原始状态
物质表面形貌观测、结构分析、成分鉴定。
用于对材料的晶体结构、组织和形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究的对象可以是周期性的晶体结构,也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷,以及晶界
用于对材料的晶体结构、组织、形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究对象可以是周期性的晶体结构,也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷以及晶界、相
1表面形貌的表征;2表面物化属性的表征;3功能拓展——研究材料的摩擦系数、材料表面的磁畴分布、材料的表面电势。
物质表面形貌观测、结构分析、成分鉴定
测试材料在紫外-可见-近红外波段的吸收谱,用于结构分析、成分鉴别、光学特性研究等。