厂商及型号
日本电子 JEM-2100F
性能参数
加速电压200KV，超高分辨极靴，样品倾斜角度，X方向±25°，Y方向±25°.点分辨率为0.19nm； TEM模式下，束斑尺寸小于5nm，放大倍数2,000×～1,500,000×； STEM模式下，晶格图象的分辨率为0.2nm；EDS的接受角度为0.13sr；
服务功能
用于对材料的晶体结构、组织、形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究对象可以是周期性的晶体结构，也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷以及晶界、相界、畴界、表面等界面。
