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设备 / 光学仪器

透射电子显微镜

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厂商及型号

日本电子 JEM-2100

性能参数

加速电压200KV，高分辨极靴，样品倾斜角度，X方向±25°，Y方向±36°,点分辨率为0.23nm,放大倍数2，000×～1，500，000×，

服务功能

用于对材料的晶体结构、组织和形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究的对象可以是周期性的晶体结构，也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷，以及晶界、相界、畴界、表面等界面。
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