SEM检测
材料形貌分析
明暗场像,电子衍射,EELS,三维重构
表征物质内部结构
TEM数据采集
物质表面结构表征
该仪器具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像及图像处理。,配有高性能X射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区成分的定性、半定量和定量分析