X射线衍射仪(TZY-Xrd)

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厂商及型号

日本理学公司D/MAX-TTRIII(CBO)

性能参数

(1) 标准测试:有聚焦及平行光两种模式,测试角度范围为3°~154°,可进行物相分析。(2) 小角测试:透射模式,测试角度范围为0.06°~3°,最大样品大小为4mm×32mm×2mm,可对纳米颗粒的粒径及空孔尺寸进行估算。(3) 中低温测试:使用的温度范围在大气中为室温到300℃,真空中为-180℃到300℃,可对样品在不同温度下进行结构分析。多用途薄膜测量系统:四轴系统,测反射率

服务功能

该设备配备了标准、小角、中低温及多用途薄膜样品台,可对粉末及薄膜样品进行测试,用于物相分析、晶粒大小估算等;多用途薄膜测量四轴系统,测反射率,可利用软件对膜厚等进行估算。