厂商及型号
德国SENTECH公司SE 850 DUV
性能参数
光谱范围：190 ~ 2500 nm；光谱分辨率：DUV-VIS: 优于 0.8 nm/pixel；样品尺寸：可达 6 inches；最大样品厚度：7 mm；样品形态：透明块体材料、单层或多层膜；测量时间：UV/VIS: 5 s, NIR: 30-120 s；光斑尺寸：0.1 mm to 4 mm
服务功能
是一种基于椭圆偏振光原理的非接触光学反射测量仪器。可测出样品的膜厚、折射率、消光系数、介电常数、反射率等光学参数,同时还可以分析样品的各向异性、表面/界面粗糙度、梯度渐变性等。
