光谱椭偏仪(SE-850)

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厂商及型号

德国SENTECH公司SE 850 DUV

性能参数

光谱范围:190 ~ 2500 nm;光谱分辨率:DUV-VIS: 优于 0.8 nm/pixel;样品尺寸:可达 6 inches;最大样品厚度:7 mm;样品形态:透明块体材料、单层或多层膜;测量时间:UV/VIS: 5 s, NIR: 30-120 s;光斑尺寸:0.1 mm to 4 mm

服务功能

是一种基于椭圆偏振光原理的非接触光学反射测量仪器。可测出样品的膜厚、折射率、消光系数、介电常数、反射率等光学参数,同时还可以分析样品的各向异性、表面/界面粗糙度、梯度渐变性等。