扫描探针显微镜

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厂商及型号

MMAFM/STM/N3A

性能参数

1. 测试噪声: <0.5?。(以零扫描方式验证)2. 样品尺寸: x,y轴方向>200mm, z轴>25mm。3. 扫描非线性:<1.5%。4. 设备适用范围:测量金属、非金属、生物、半导体等材料。5. x,y轴方向扫描:范围>90μm,最高分辨率优于0.3nm。6. z轴方向扫描:范围>6μm,最高分辨率优于0.05nm

服务功能

通过在样品表面上扫描AFM微悬臂(或使微悬臂下的样品移动)并记录微悬臂的形变,可以测量样品表面的起伏高度。将样品的局域起伏高度对应探针尖的水平位置绘图,即可得到样品表面的三维形貌图像。利用轻敲模式技术,测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像