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设备 / 光学仪器

场发射扫描电子显微镜系统

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厂商及型号

Zeiss Supra 55 FESEM

性能参数

双操纵杆样品台控制;使用磨球和键盘的控制面板; 红外CCD相机.

服务功能

半导体、金属、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌观察，纳米材料显微结构、尺寸分析，材料微结构及相分布观察 。
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