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设备 / 光学仪器

高分辨透射电子显微镜(物质区域中心)

中国科学院物理研究所

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厂商及型号

日本电子 JEM2010

性能参数

点分辨率:??0.19nm?；放大率: x50～1,500,000；加速电压: 80～200kv

服务功能

适用于对金属材料及金属基复合材料、陶瓷资料等固体材料高分辨显微学研究。
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