厂商及型号
日本电子株式会社JEM-2100F
性能参数
1) 分辨率 点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.1nm STEM分辨率：0.2nm仪器指标 2) 最小束斑尺寸 TEM模式：2nm以下 EDS模式/纳米束电子衍射(NBD)模式/会聚束电子衍射(CBD)模式：0.5nm 3) 放大倍率 MAG模式： x2,000 - x1,500,000 LOW MAG模式：x50 - x6,000 SA MAG模式： x8,000 – x800,000 4) 加速电压: 100,120,200kV 5) 样品移动范围：2mm
服务功能
1) 主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察，获得材料的组织结构、晶体结构；电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察； 2) 结合能谱仪(EDS)得到纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布分析。
