厂商及型号
德国KSI公司 //PVA TePla SAM 400
性能参数
机械部分:
驱动：X/Y两轴超高速线性马达系统
扫描范围：最小 200×200μm 最大 400×400mm
最大扫描速率：>1500mm/s，
扫描重复精度：+/-0.1μm
Z-轴驱动：电机驱动，移动范围100mm
电子部分:
信号转换：1×500M sample/s AD 模数转换卡
电脑控制：Windows 7 操作系统
软件部分：
主要扫描模式：
点扫描(A-)，包括渡越时间功能的A-scan数字波形实时显示,纵剖扫描(B-),多层纵剖扫描(P-),横剖扫描(C-),多配置多层横剖扫描(G-),单配置多层横剖扫描(X-),斜剖扫描(D-),实体扫描(Z-)，预扫描(Pre-Scan)、快速预扫描(Fast-pre-Scan)、高质量扫描(HQ-)，托盘扫描(Tray-)，3D 扫描、透射扫描（需加配透射扫描单元及接收换能器），可将透射扫描和C-扫描同时一次性进行（S-），另无需改变接线模式，即可进行透射扫描与反射扫描的任意切换；可任意选择纵剖扫描、多层纵剖扫描以及斜剖扫描模式剖切位置；所有扫描设置参数均可自动存储，包括：A波形图，功率设置、增益、数字门限延迟、门限宽度等
软件主要功能：
可调增益，扫描过程中设置数字门限宽度和延迟，基于运行时间滤波的多重门限设定，阈值设定，正-负峰值相位检测，幅值显示，平均值、双极、渡越时间三种检测模式，基于相位测量的自动分层检测，长度测量，图像缩放，自动面积计算，着色功能，SAM图片重构功能、自动存储扫描参数，图片分辨率125×125至32000×32000像素，声阻抗测量，自动声阻抗颜色设定，方便SAM图像分析的各种精细过滤功能等。
服务功能
AM 400 HighTec 超声波扫描显微镜是一款用于质量及工艺控制、科研方面的专业无损检测设备，采用了最新的射频和超声换能器技术，频率可高达400MHz，简单易用的图形用户界面提供了强大的功能，可轻松应对各种复杂的超声检测工作。
