厂商及型号
STAr Technologies, Inc.//STAr Sagittarius
性能参数
1整合性：
能够整合市场上最通用品牌半导体测试设备
2测试功能：
高频及准静态CV测试、JRAMP测试、JTDDB测试、VRAMP测试、VTDDB测试、ISO-EM、TCR、Charge pumping、HCI、TVS、BTI及fast-NBTI；
3 测试模式：
（1） 图像互交模式（简单快速测量）
（2） 工程模式（适合工程师进行编程）
（3） 自动模式（供大量测试时使用）
服务功能
该设备功能是提供纳米新器件的基本电学特性（如：I-V、C-V等）以及器件可靠性（如：BTI、TDDB、HCI等）的测试与分析，并支持手动和自动两种测试模式。其最小电流和最小电压值可分别达到皮安（pA）量级和微伏（μV）量级，适用于16/14纳米技术代及其以下的纳米新器件的高精度的测量要求。
