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设备 / 光学仪器

全光通量LED点测台

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厂商及型号

性能参数

1.自动化LED wafer/chip点测设备、漏电流测试单元和光学测试模组； 2.可测量大功率和小功率LED芯片I-V特性、正向电压、光功率、反向漏电、反向电压、峰值波长、主波长、ESD等基本的LED光电性能参数； 3.高压恒流电压，电压范围可达200V； 4.半自动Chroma大面积光探测器(量测角度可达128度)

服务功能

LED光电色分析
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