光学轮廓仪(八室A)

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厂商及型号

MICRO XAM1200

性能参数

测量垂直分辨率是 0.1nm,最大纵深为 1um。测量表面台阶高度,的最大高度可达 5mm。

服务功能

测量样品表面粗糙度,主要针对光滑表面